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Product Center15JE数显测量显微镜
品牌 | TEELEN/缔伦光学 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 国产 | 应用领域 | 综合 |
15JE数显测量显微镜
一、仪器简单介绍:
结构简单、操作方便和经久耐用的测量显微镜,历史悠久,适用范围广泛,
二、15JE数显测量显微镜主要用途如下:
1、坐标中测定长度:孔距、基面距离、内、外圆直径、键槽宽度、狭缝宽度、刻线宽度等。
2、转动度盘测定角度:样板、量规钻孔模板及几何形状复杂的零件进行外形和角度测量。
3、用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度、鉴定冶金工业矿石标本、检验纤维及印刷、照相和电子行业的细微作业等。
三、仪器规格:
1、物镜
放大倍数:2.5X/0.08、 10X/0.25
焦距(mm):43.40、17.13
2、目镜
放大倍数:10X
焦距(mm):5.00
3、显微镜放大倍数:25X、100X
工作距离(mm):58.84、7.81
视场直径(mm):5.6、1.4
4、测量工作台读数装置主要规格
X——轴移动测量范围:50mm
Y——轴移动测量范围:13mm
测微器分度值:0.001mm
测量台转动范围:不限
测量台刻度盘分度范围:0˚-360˚
测量台刻度盘之分度值:1˚
测量台刻度盘游标读数示值:6’
5、测量精度:
仪器示值误差±(5+L/15)微米
仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差。
注:测量地点温度变化(20˚±3˚)C
L——被测件长度(mm)
6、仪器之主要尺寸:
测量台与物镜间距离:80mm
测量工作台直径:120mm
仪器外形尺寸:高325*长262*宽220mm
仪器重量约:10.6公斤
7、光源:自然光
选购件:
40倍平场物镜